光計測機器・部品

[an error occurred while processing this directive]
[an error occurred while processing this directive]
前の10件 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次の10件
NIRQuest512-2.2

NIRQuest512-2.2 /オプトシリウス?

NIRQuest512-2.2は900-2,200nmの波長領域をカバーし、より高分解能の測定を可能にした小型近赤外分光器です。またグレーティングのラインアップも増え希望する波長領域でさらに高分解の仕様選択することも可能です。より高感度でS/Nもさらに向上した新機種です。

>>詳しくはこちら
 
Jaz-ULM 携帯型光計測分光器

Jaz-ULM 携帯型光計測分光器 /オプトシリウス?

Jaz=ULMは野外での計測を可能にしたコンパクトな光測定器です。直付けのコサインコレクタにより太陽光、LED等様々な光源の照度、色度、エネルギーを測定することが出来ます。Jazメモリに格納されたJaz-A-IRRADスクリプトによりスタンドアローンの計測が可能です。また、SpectraSuite-PARを使えばPC上でさらに詳細な光計測が可能です。

>>詳しくはこちら
 
広帯域ファイバマルチチャンネル分光器 XRシリーズ

広帯域ファイバマルチチャンネル分光器 XRシリーズ /オーシャンフォトニクス?

米国Ocean Optics社製の広帯域分光器XR シリーズは、広範囲をカバーするグレーティングを採用し、広帯域(200 - 1050 nm)の光計測を実現した革新的モデルです。広範囲にもかかわらず、OFLV高次光カットフィルタを内蔵し、2次光、3次光を除去しました。

>>詳しくはこちら
 
膜厚モニター FE-300

膜厚モニター FE-300 /大塚電子?

小型・低価格! 簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
? 薄膜から厚膜まで(10nm?40μm)の幅広い膜厚に対応します。
■反射率スペクトルを用いた膜厚解析
■コンパクト・低価格・高精度測定を実現
■安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップ
■非線形最小二乗法、最適化法、PV法、FFT解析法などによって幅広い種類の膜厚測定が可能

>>詳しくはこちら
 
レーザーパワー・エネルギーメータ、ビームプロファイラ

レーザーパワー・エネルギーメータ、ビームプロファイラ /オプトテック?

Gentec-EO社製レーザーパワー・エネルギーメータを取扱っております。Gentec-EO社はレーザーパワー及びエネルギーメータの専門メーカとして全世界へ製品の供給を行なっております。現在ではレーザービームプロファイラの取扱いも行なっており、レーザー出力測定機器だけでなく、お客様からご要求に幅広く対応できるようになっております。

>>詳しくはこちら
 
ダブルビームレーザー変位計

ダブルビームレーザー変位計 /ヤーマン(株)

薄膜の圧電特性を100fmの分解能で光学的に測定可能、薄膜用として唯一圧電定数(d33)を保証でき、同時に電気特性も評価できる装置構成。研究開発用のマニュアルタイプから生産ライン用のフルオート機能の製品を準備可能です。

>>詳しくはこちら
 
光学式膜厚屈折率測定器

光学式膜厚屈折率測定器 /ヤーマン(株)

薄膜の屈折率、膜厚、吸収係数を反射透過率の分光法とエリプソメーター、DPSD(SCI特許)の選択が可能なハイブリッドな膜厚計、複屈折率、CD測定等まで拡張可能。基材はSiに限らず、ガラス、PETフィルム等にも対応。多層膜、微小スポット評価も可能です。

>>詳しくはこちら
 
LossPro

LossPro /ノヴァトレーディング

LossPro 超高精度光反射・光損失測定システム
本高性能光部品を超高精度によって正確に特性評価することが可能です。 本システムは、無比の精度によって薄膜の反射率、損失および、高感度分光法として広く用いられているCavity Ringdown法を採用しています。反射率: 98% ? 99.9995% 損失率:2%? 0.0005%とサブppm-レベル精度で、光部品を測定できます。

>>詳しくはこちら
 
ライフタイム測定器 WCT-120

ライフタイム測定器 WCT-120 /ミワオプト(株)

WTC-120 は、デバイス研究および工程管理に適した、お手頃価格で購入できる卓上型シリコン用ライフタイム測定器です。本機器を使えばボタンひとつで、抵抗、ライフタイム、トラップ密度およびエミッター飽和電流密度を含むシリコンウェーハの主な特性を検出できます。

>>詳しくはこちら
 
簡易高速分光エリプソメーター(alpha-SE)

簡易高速分光エリプソメーター(alpha-SE) /ジェー・エー・ウーラム・ジャパン?

薄膜の膜厚と屈折率の測定なら、コンパクトなデザインの新型、α-SEがおすすめです。従来の大掛かりな装置ではなく、可能な限り小さくコンパクトにまとめました。理想的なテーブルトップの装置です。また、コンピューターとのインターフェースにUSBを装備。取得したデータを簡単に取り込むことができます。

>>詳しくはこちら
 
[an error occurred while processing this directive]
前の10件 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次の10件

[an error occurred while processing this directive]