光計測機器・部品

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レーザー超音波検査装置

レーザー超音波検査装置 /(株)日本レーザー

パルスレーザーを検査対象物の表面に照射することによって発生する超音波を利用して、対象物の内部異常・欠陥などを検査する非破壊検査装置です。
表面に照射されたパルスレーザーによって発生した超音波は、物質内部の異常部位・欠陥部に到達した後、再び表面に戻ってきて、表面状態に微小な変位を生じさせます。この微小な変位を、プローブ用のレーザーを利用してレシーバーに取込むことで、欠陥検出を行うことができます。自動車・航空機・造船・石油・ガス・製鉄・電子部品・半導体など、多くの業界で使用可能です。

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フィゾー型干渉計 “Intellium Asphere”

フィゾー型干渉計 “Intellium Asphere” /(株)日本レーザー

非球面だけでなく、球面または平面に対する高速、高解像度そして非接触の特性解析を実現します。
生産現場やプロセス・コントロールのアプリケーションに最適で、簡単な操作性と高効率、そして複数の表面計測アプリケーションに対応するフレキシビリティを、優れたコスト・パフォーマンスで提供します。
サブ・ナイキスト干渉分光(Sub-Nyquist Interferometry:SNI).と呼ばれる干渉分析方式を採用しています。SNIは従来のフェーズ・シフト干渉分光方式(Phase-Shifting Interferometry:PSI)で顕著な大きな波面スロープの計測に対する限界を解消。

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粒度分布/速度分布測定装置“VisiSizerシリーズ”

粒度分布/速度分布測定装置“VisiSizerシリーズ” /(株)日本レーザー

画像の状態や対象粒子の条件に左右されない物理レンズ光学法則を解明し利用することにより、正確な粒度分布と速度分布の測定を実現しています。 これにより、マイクロバブルや液滴、ディーゼルなどの高濃度噴霧、結晶形成過程のリアルタイム測定など、従来の測定装置では測定が困難な条件下でも安定して正確に測定できるシステムとなっています。

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RAMANplus ナビ付きレーザーラマン顕微鏡

RAMANplus ナビ付きレーザーラマン顕微鏡 /ナノフォトン(株)

RAMANplusはラマン画像と反射コンフォーカル画像をシームレスに観察できるナビ機能つきのレーザー顕微鏡です。従来の顕微ラマン装置ではコントラストの低い顕微鏡画像が位置決めの問題点でした。RAMANplusでは非常にコントラストの高いコンフォーカル画像を元に位置決めができますから、あたかもこれまでのラマン顕微鏡に、広い場所で目標の地点を正確に探し出すカー・ナビゲーションのような機能が付け加わったことに相当します。

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TCSPC(時間相関単一光子計数)モジュール SPCシリーズ

TCSPC(時間相関単一光子計数)モジュール SPCシリーズ /(株)東京インスツルメンツ

ドイツベッカー&ヒックル社製SPCシリーズは、光の高速現象をTCSPC(時間相関単一光子計数)方式にて、ピコ秒オーダーの計測および分析が可能なエレクトロニクスモジュールです。蛍光寿命測定や蛍光寿命イメージング、アンチバンチング測定などに最適なモジュールです。

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超高感度分光用EMCCD検出器「Newton」EM

超高感度分光用EMCCD検出器「Newton」EM /(株)東京インスツルメンツ

電子増倍型CCD(EMCCD)を搭載し、1000倍の増幅機能を持 つ超高感度検出器「Newton」は、短時間で微弱光を取り込むのに優れた装置です。-100℃冷却による低ノイズ化と量子効率90%以上の高感度CCDセンサーによりSNを高めています。EMモードの他に低速度、低ノイズで読み出すconventional モードもあります。

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均一標準光源システム

均一標準光源システム /?システムズエンジニアリング

積分球を均一な面分布を持つ光源として使用します。CCDカメラ等の素子感度のバラツキ校正に最適です。積分球サイズは6・12・20インチが用意されており、サンプルサイズに合わせてシステム構成をご提案します。

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GPSシリーズ汎用積分球

GPSシリーズ汎用積分球 /?システムズエンジニアリング

GPSシリーズ積分球は、積分球本体・ロッド・ロッドスタンド・ベースさらにポートプラグ等の積分球アクセサリーがモジュールとして分割され、必要な物だけをご注文いただける汎用積分球です。
スペクトラフレクト … 硫酸バリウムコーティング
スペクトラロン   … テフロン粉末の圧縮成型材
インフラゴールド  … 金コーティング

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自動多入射角分光エリプソメーター(VASE)

自動多入射角分光エリプソメーター(VASE) /ジェー・エー・ウーラム・ジャパン?

複数入射角によるデータの同時解析により真空紫外から赤外領域までを非接触・非破壊で薄膜解析できます。半導体・誘電体・ポリマー・金属・多層膜など、あらゆるタイプの物質を調べることのできる我々の最も強力で汎用性の高いエリプソメーターです。
またVASEには高い精度と分析能が、広い波長範囲(140nm?30μm)で備わっています。波長と入射角が可変なため、フレキシブルな測定が可能です。

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高速分光エリプソメーター(M-2000®)

高速分光エリプソメーター(M-2000®) /ジェー・エー・ウーラム・ジャパン?

M-2000®高速分光エリプソメーターは、最新の光学構成を持ち、広い波長範囲と高速測定が出来るようになりました。これらの機能をそなえたM-2000®は In-Situプロセスモニタリングや品質コントロール・面内分布測定等の理想的な装置といえます。また、分光スペクトルデータはほんの数秒で測定することができます。

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